Ნაწილი ნომერი :
SN74BCT8244ADW
მწარმოებელი :
Texas Instruments
აღწერა :
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
ლოგიკის ტიპი :
Scan Test Device with Buffers
მიწოდება ძაბვა :
4.5V ~ 5.5V
ოპერაციული ტემპერატურა :
0°C ~ 70°C
სამონტაჟო ტიპი :
Surface Mount
პაკეტი / საქმე :
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
მიმწოდებელი მოწყობილობის პაკეტი :
24-SOIC