Ნაწილი ნომერი :
SN74ABT8952DW
მწარმოებელი :
Texas Instruments
აღწერა :
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC
ნაწილის სტატუსი :
Obsolete
ლოგიკის ტიპი :
Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
მიწოდება ძაბვა :
4.5V ~ 5.5V
ოპერაციული ტემპერატურა :
-40°C ~ 85°C
სამონტაჟო ტიპი :
Surface Mount
პაკეტი / საქმე :
28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
მიმწოდებელი მოწყობილობის პაკეტი :
28-SOIC