Ნაწილი ნომერი :
SN74BCT8373ADWRG4
მწარმოებელი :
Texas Instruments
აღწერა :
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
ნაწილის სტატუსი :
Obsolete
ლოგიკის ტიპი :
Scan Test Device with D-Type Latches
მიწოდება ძაბვა :
4.5V ~ 5.5V
ოპერაციული ტემპერატურა :
0°C ~ 70°C
სამონტაჟო ტიპი :
Surface Mount
პაკეტი / საქმე :
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
მიმწოდებელი მოწყობილობის პაკეტი :
24-SOIC