Ნაწილი ნომერი :
SN74BCT8374ANTG4
მწარმოებელი :
Texas Instruments
აღწერა :
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
ნაწილის სტატუსი :
Obsolete
ლოგიკის ტიპი :
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
მიწოდება ძაბვა :
4.5V ~ 5.5V
ოპერაციული ტემპერატურა :
0°C ~ 70°C
სამონტაჟო ტიპი :
Through Hole
პაკეტი / საქმე :
24-DIP (0.300", 7.62mm)
მიმწოდებელი მოწყობილობის პაკეტი :
24-PDIP