Ნაწილი ნომერი :
SN74LVTH18646APMG4
მწარმოებელი :
Texas Instruments
აღწერა :
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
ლოგიკის ტიპი :
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
მიწოდება ძაბვა :
2.7V ~ 3.6V
ოპერაციული ტემპერატურა :
-40°C ~ 85°C
სამონტაჟო ტიპი :
Surface Mount
მიმწოდებელი მოწყობილობის პაკეტი :
64-LQFP (10x10)