ტესტის წამყვანები - თერმოქუცლები, ტემპერატურის ზონ, TP400, 5626-20-S, 25

საკვანძო ნაწილი # / მწარმოებელი	აღწერა / PDF	რაოდენობა / RFQ
80PJ-1 Fluke Electronics	PROBE BEAD TYPE-J. Test Probes TYPE J BEAD PROBE	2834ცალი საფონდო
TP400 FLIR Extech	450F PIPE CLAMP TEMP PROBE. Environmental Test Equipment PIPE CLAMP TEMP PROB 450F	1099ცალი საფონდო
5626-20-S Fluke Electronics	PROBE SEC. PRT 100 OHM 1/4 IN X.	25ცალი საფონდო
5626-20-B Fluke Electronics	PROBE SEC. PRT 100 OHM 1/4 IN X.	25ცალი საფონდო
881603 FLIR Extech	PROBE TEMPERATURE K HEAVY DUTY. Test Probes PROBE TEMPERATURE	1870ცალი საფონდო
5626-12-S Fluke Electronics	PROBE SEC. PRT 100 OHM 1/4IN DIA.	32ცალი საფონდო
5626-12-M Fluke Electronics	PROBE SEC. PRT 100 OHM 1/4IN DIA.	32ცალი საფონდო
TP870 FLIR Extech	PROBE TEMPERATURE K BEAD WIRE. Test Probes PROBE TEMPERATURE	5516ცალი საფონდო
5626-20-P Fluke Electronics	PROBE SEC. PRT 100 OHM 1/4X20 IN.	25ცალი საფონდო
5626-20-M Fluke Electronics	PROBE SEC. PRT 100 OHM 1/4 IN X.	25ცალი საფონდო
5626-12-P Fluke Electronics	PROBE SEC. PRT 100 OHM 1/4 IN DI.	32ცალი საფონდო
TP875 FLIR Extech	PROBE HIGH TEMP 1000 F W/ALLIGA. Test Probes PROBE HIGH TEMP 100	2527ცალი საფონდო
5626-20-G Fluke Electronics	PROBE SEC. PRT 100 OHM 1/4 IN X.	25ცალი საფონდო
5626-15-L Fluke Electronics	PROBE SEC. PRT 100 OHM 1/4IN DIA.	31ცალი საფონდო
5626-15-S Fluke Electronics	PROBE SEC. PRT 100 OHM 1/4IN DIA.	31ცალი საფონდო
5626-15-M Fluke Electronics	PROBE SEC. PRT 100 OHM 1/4IN DIA.	31ცალი საფონდო
5626-15-P Fluke Electronics	PROBE SEC. PRT 100 OHM 1/4 IN DI.	31ცალი საფონდო
5626-15-G Fluke Electronics	PROBE SEC. PRT 100 OHM 1/4IN DIA.	31ცალი საფონდო
5626-15-J Fluke Electronics	PROBE SEC. PRT 100 OHM 1/4IN DIA.	31ცალი საფონდო
5626-15-D Fluke Electronics	PROBE SEC. PRT 100 OHM 1/4IN DIA.	31ცალი საფონდო

ტესტის წამყვანები - თერმოქუცლები, ტემპერატურის ზონ

კლასიფიკაციის გვერდები